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FD-TM型 温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪
复旦天欣 2008年6月17日 发表
  

  对温度传感器性能的了解及测试是大学物理实验的一项必备内容,但大多数实验仪器只具备做环境温度以上的实验, FD-TM温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪具备了半导体致冷功能,使之能做环境温度以下的实验。本仪器主要测试温度传感器AD590的性能(可根据要求增加多种温度传感器的测试)及了解半导体致冷堆的性能。

  仪器主要由以下部分组成:

  1.TCF708控温仪

  2.四位半数字电压表(0-2V)

  3.加热井和致冷井装置

  4.AD590实验系统

  应用该仪器可以完成以下实验:

  1.学习半导体制冷的原理。

  2.测量电流型温度传感器AD590的特性。

  3.学习智能温度调节仪控温的原理及调节方法。

  仪器主要技术参数:

  1.加热范围 环境温度-120℃

  2.致冷范围 环境温度-低于环境温度30℃

  3.控温精度 0.1℃

  4.测温精度 ±3%

 

 

 

 

 

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